|
Семинар-практикум
КОРЕЛЛЯЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
для решения ключевых задач Науки о живом
23 апреля 2014 года на базе лаборатории применения аналитического оборудования компании Системы для Микроскопии и Анализа (СМА) в Сколково пройдет семинар-практикум «Корреляционная микроскопия для решения ключевых задач науки о живом». Организаторами мероприятия являются компании-партнеры FEI и СМА.
В рамках мероприятия будут представлены последние достижения FEI для решения ключевых задач науки о живом: структурная, клеточная биология, гистология, введение в корреляционную световую и электронную микроскопию, а также решения корреляционной микроскопии для криоисследований и исследований на живых культурах.
Участникам мероприятия будет представлен практикум по корреляционному рабочему процессу, в т.ч. пробоподготовка, использование готовых данных, получение изображений просвечивающей световой микроскопии, получение изображений электронной микроскопии.
Директор компании СМА В.Я. Шкловер выступит с докладом на тему «Мультимасштабная объемная микроскопия: опыт применения в биомедицинских исследованиях».
В рамках семинара пройдут демонстрационные секции:
- Демонстрация концепции программного продукта Maps на микроскопе CorrSight, включая получение изображений световой микроскопии;
- Демонстрация концепции программного продукта Maps на микроскопе Helios, включая получение изображений электронной микроскопии.
Для участников семинара будет организован трансфер от ст. м. «Славянский бульвар до Сколково (утро) и обратно (день, вечер). Во время мероприятия будет осуществляться устный последовательный перевод презентаций на русский язык.
Участие в мероприятии бесплатное по обязательной предварительной регистрации. Регистрация на сайте www.microscop.ru, а также по тел. +7 (495) 933 43 17 (Регина Годжиева, Ксения Барсукова). Также можно направить заявку на barsukova@microscop.ru, microscop@microscop.ru,
Регистрация открыта до 11 апреля 2014 г.
ПРОГРАММА
Семинара-практикума
КОРЕЛЛЯЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
для решения ключевых задач Науки о живом
Дата: 23 апреля 2014 г.
Место: Сколково (МО), ул. Новая, д. 100, корпус «Урал».
Организаторы: FEI, Системы для микроскопии и Анализа
09.30 - 10.00 - Регистрация, кофе
10.00 - 10.15 - Приветственная речь. PeterFruhstorfer, FEI
10.15 - 10.30 - Приветственная речь. Владимир Яковлевич Шкловер, СМА
10.30 - 11.15 - Решение задач науки о живом от FEI – Структурная, клеточная биология, гистология, введение в корреляционную световую и электронную микроскопию / FEILifeSciencesolutions - StrctBio, CellBio, TissueBio, introCLEM (iCorrvsCorrSightshort).Ben Lich, FEI
11.15 - 11.30 - Вопросы и ответ
11.13 - 11.45 - Кофе-брейк
11.45 - 12.30 - Практикумпокорреляционномурабочемупроцессу – Пробоподготовка – Использованиеготовыхданных – Получениеизображенийпросвечивающейсветовоймикроскопии – Получениеизображенийэлектронноймикроскопии / Correlative Workflow used during WS – Sample prep – Using existing data – Acquiring Transmission LM – Acquire EM data – Present sample prep. KristianWadel, FEI
12.30 - 12.45 - Вопросы и ответы
12.45 - 13.30 - Мультимасштабная объемная микроскопия: опыт применения в биомедицинских исследованиях / Multiscalevolumemicroscopy: applicationsinlifesciences. В.Я. Шкловер, СМА
13.30 - 15.00 - Фуршет
15.00 - 17.00 - Параллельные демонстрационные секции (требуется обязательная дополнительная регистрация):
- Демонстрация концепции программного продукта Maps на микроскопе CorrSight, включая получение изображений световой микроскопии / MapsconceptdemoonCorrSight – IncludeLMdataacquisition
- Демонстрация концепции программного продукта Maps на микроскопе Helios, включая получение изображений электронной микроскопии / MapsconceptdemoonHelios – IncludeEMdataacquisition
17.00 - 17.45 - Решения корреляционной микроскопии для криоисследований и исследований на живых культурах / PresentationCorrelativemicroscopysolutionsCryo, Live. KristianWadel, FEI
17.45 – 18.00 – Подведение итогов, кофе
О компаниях организаторах:
FEI - Обладая более чем 60 летним опытом в области инноваций, компания FEI занимает лидирующие позиции на рынке сканирующих (SEM), просвечивающих (ТЕМ) электронных микроскопов и ионно-лучевых приборов (FIB). Компания предлагает комплексные решения в области аппаратного и программного обеспечения, инновационные разработки в электронной, ионной и световой микроскопии для широкого спектра областей применения: материаловедение, наука о живом, электроника, природных ресурсы.
Системы для Микроскопии и Анализа - одна из ведущих российских научно-технических компаний, проводник инноваций и последних достижений в области систем для электронной, оптической микроскопии, рентгеновского микроанализа в широком диапазоне применения: микроэлектроника, наука о живом, природные ресурсы, материаловедение. Компания имеет собственную высокотехнологичную аналитическую лабораторию, которая в сентябре 2013 года получила статус аккредитованного центра коллективного пользования «Микроанализ» в Сколково.
|